開放包容 交流分享 | lewin樂玩微Technical Day-Verfication&Validation專場
2025-02-21
近日，lewin樂玩微電子的研發團隊成功舉辦了一場聚焦DV&Emu-Vx專題的Technical Day盛會，旨在深入探索并顯著提升驗證與測試領域的質量與效率，為芯片研發工作保駕護航。
活動中，研發團隊的精英們積極互動，圍繞構建高效、健全的防控體系和方法論展開了熱烈而富有成效的討論，并紛紛登臺，分享了他們在各自領域的最新研究成果。具體涵蓋以下幾個核心技術和平臺：
?1. YBench基礎公共驗證平臺?：該平臺以其最新的功能特性和在驗證實踐中的卓越表現，贏得了廣泛關注。分享者詳細闡述了其最新功能，并深入剖析了其在提升驗證效率與準確性方面的獨特優勢。
?2. Validation測試框架的平臺化設計?：分享者以獨到的視角，揭示了Validation測試框架平臺設計的精髓所在。他們探討了如何通過平臺化的策略，實現測試效率的大幅提升，同時增強測試的可復用性和可擴展性，為測試工作注入了新的活力。
?3. 芯片開發早期快速驗證方法學?：結合實際項目案例，分享者們生動展示了芯片開發早期快速驗證方法學在驗證與測試領域的廣泛應用和顯著成效。他們通過具體的數據和實例，充分證明了這些方法在提升測試效率、準確性和可靠性方面的巨大潛力。
?4. 后仿與FPGA平臺設計的深度探討?：此外，活動還就后仿、FPGA平臺設計等前沿議題進行了深入的探討和交流。與會者們紛紛發表了自己的見解和看法，為這些領域的發展貢獻了新的思路和方向。
本次活動最終評選出了三名優秀主講人，分別獲得一等獎、二等獎和三等獎。
此次Technical Day活動不僅極大地促進了研發團隊內部的技術交流與合作，更為公司未來的芯片研發質量保障工作提供了寶貴的經驗和啟示。通過這一系列精彩紛呈的分享與討論，lewin樂玩微的研發團隊將更加自信地面對復雜的驗證與測試挑戰，不斷攀登芯片研發的新高峰。
